Skenējošie elektronmikroskopi – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Piešķirts PT
Plānotā vērtība
€600 tūkst.
Piešķirtā vērtība
€600 tūkst.
Piedāvājumi
1
Publicēts
15.07.2026
Uzvarētājs
€600 tūkst.